· Potentiostat VoltaLab PGP201.

Electrodéposition de Couches minces

Equipe 3

N° Inv. 6980 (2004)

Salle de EQ-III (E7)

· Banc de mesure de la résistivité par la méthode des 4 pointes

- Sonde : JANDEL 790806

- Electromètre KEITHLEY 6517A

- Source-mètreKEITHLEY 2400

N° Inv. EQ-IV 003 (2007)

Salle de EQ-IV (E8b)

· Precision LCR Meter 20Hz-1Mhz, AGILENT 4284A

Mesures des propriétés électriques

N° Inv. EQ-IV 004 (2007)

Salle de EQ-IV (E8b)

· Four tubulaire

- Température MAX 1200°C

- Longueur chauffée 250mm

- Ø interne du tube 50mm

- Programmateur P330

Recuit sous atmosphère contrôlée

N° Inv. 0115 (2013)

Salle de Chimie (E8a)

· Spectrophotomètre UV-Visible à balayage (190‑1100nm) JASCO V‑630

Mesure des propriétés optiques

N° Inv. 0116 (2014)

Salle de Caractérisation (E2)

· Four à moufle de laboratoire (Witeg Labortechnik GmbH, modèle FHX-03 (température max : 1200°C, unité de programmation)

Recuit

N° Inv. 0117 (2014)

Salle de Chimie (E8a)

· Ellipsomètre Spectroscopique (SENresearch 4.0) (SENTECH Instruments GmbH)

Mesure des propriétés optiques (épaisseurs et indices de couches minces)

N° Inv. 0117 (2017)

Salle de Caractérisation (E2)